暗室nsa测量原理和方法 泰鼎检测 -pg电子试玩

1.    前言

归一化场地衰减（nsa）是电波暗室的一个重要参数，也是电波暗室校准或者验收的重要依据。

2.    参考标准

cispr 16-1-4，ansi c63.4等

3.    针对频段：

30mhz-1ghz

4.    判据：

±4db

5.    测量原理:

对于每一种极化方式，nsa都要求两次测得不同的接收电平vr。第一次测得的vr是两根同轴电缆直接通过连接器对接时所测得的接收电平值。第二次测得的vr是两根同轴电缆分别 连接对应的天线时所测得的最大接收电平值。两次测量，信号源电平vi保持不变。第一次读数记做vdirect，第二次读数记做vsite。用以下公式计算测量nsa值an，单位为db。

an=vdirect-vsite-fsaft-fsafr-gscf

fsaft，fsafr分别为发射天线和接收天线的自由空间天线系数，gscf值表示几何特性校准因子。

目前的nsa测试结果用实测nsa值an与理论nsa值atheo的偏差来表示。

即δa= an- atheo

场地有效性确认准则：δa≤±4db

6.    测量方法：

（1）测试示意图

nsa测试距离：3.0m；

nsa测试静区：直径2.0m、高2.0m；

nsa测试必须在暗室中轴线上测试为准。

（2）测试扫描步进

（3）测试天线设置

备注：每种极化方式下，发射天线与接收天线都要正对

（4）测试布置图

                               水平极化：测试位置分别为中（c）前（f）后（b）左（l）右（r）

垂直极化：测试位置分别为中（c）前（f）后（b）左（l）右（r）

7.    测量现场图

svswr测试方法，欢迎一起探讨。

公司：杭州泰鼎检测技术有限公司  作者：杨少侠